Grundlagen und Anwendung der Rietveld Verfeinerung

Ort: Stuttgart
Url: http://www2.fkf.mpg.de/xray/downloads/general/Doktorandenkurs_2013.pdf
Zeitraum: 03/04/2013 bis 03/04/2013

Kursbeschreibung
Ziel des Intensivkurses ist es, die Grundlagen der Rietveld Methode in Theorie und Praxis zu vermitteln. An Hand von ausgewählten Beispielen soll der gesamte Prozess von der Profilanpassung mittels Fundamentalpa-rameter bis hin zur Bestimmung der Atomlagen mit anschließender Verfeinerung dargelegt werden.
Ort und Zeit:
Treffpunkt am 4. März 2013, um 8.30 vor dem Semi-narraum 4D2 des Max-Planck-Institutes für Festkör-perforschung. Kursdauer ungefähr 9.00 – 15.30 Uhr
Referenten:
Robert E. Dinnebier (MPI, Stuttgart) und Mitarbeiter
Kursgebühr:
50 Euro für Studenten /Doktoranden/ Post-Docs
(inklusive Abendbuffet)
Anreise:
Wegbeschreibungen finden sich auf der Institutsweb-seite unter: http://www.fkf.mpg.de/
Sprache
Deutsch und Englisch
Übungen
Für die Übungen ist ein Laptop (Windows XP, 7) mit Administratorrechten erforderlich. Verwendet wird das Programm TOPAS 4.2.
Information
Weitere Informationen demnächst unter: http://www.fkf.mpg.de/xray